IH2652 Methods and Instruments of Analysis
- ssagproject
- 2016年3月25日
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教授名 オムニバス形式で複数の教官 単位数 7.5 学部 Engineering Physics, Nanotechnology at Master's program 受講時期 P２, Autumn, 2015 (Oct. ~ Jan, 2015) 難易度 個人によるが，やや易
課題・宿題
"小テストおよび期末テストXRD（X-Ray Diffraction）によるエピタキシャル成長層の観察実験AFM (Atromic Force Microscopy)によるパターン観察SEM (Scanning Electron Microscopy)によるパターン観察RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry)による化学組成の解析"
感想
電子材料，半導体，マイクロマシンなどナノ物質・構造の計測・解析に関する授業です．スライドを用いた座学形式で，計測機器の原理や構造，応用について学びます．また測定結果についての考察の仕方についても学びます．様々な教官が講義を担当しますが，内容を詰め込みすぎたり，簡潔すぎて理解が不足するなど人それぞれです．自習は必要です．授業では難しい数式を理解することは求められませんが，試験では計測機器の知識を幅広く問われるので良く理解しておかなければなりません．
こんな人におすすめ
上記の機器を使う予定がある人．使っている人．機器の原理を知っておくことは重要です．
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